Microscopia eletrônica de varredura da presença de resíduos na superfície de corte de instrumentos NITI
DOI:
https://doi.org/10.26843/ro_unicidv3122019p116-124Palavras-chave:
Instrumentos odontológicos, Níquel, Titânio, Microscopia eletrônicaResumo
Atualmente o uso de instrumentos rotatórios é uma realidade, porém, estes apresentam restos de resíduos na superfície de corte. Sendo assim, o objetivo deste trabalho foi avaliar por meio de microscopia eletrônica de varredura (MEV), a presença de resíduos na superfície de corte de 20 instrumentos rotatórios de NiTi sem uso. Foram divididos em quatro grupos, a saber: Grupo A - TwistedFile® (n=5), Grupo B - BioRaCe® (n=6), Grupo C - Mtwo® (n=4) e Grupo D - EndoWave® (n=5). As pontas dos instrumentos foram microfotografadas com aumento de 190X a partir do diâmetro inicial para verificar a presença de resíduos. Em seguida, os instrumentos passaram por um rigoroso processo de limpeza e novamente microfotografados com o mesmo padrão de aumento, observando-se a ponta do instrumento e a 5mm da ponta do instrumento. Os dados obtidos foram tabulados e submetidos à análise percentual e estatística valendo-se do teste Exato de Fisher e nível de significância de 5%. No que se refere à sujidade ocorreram diferenças estatisticamente significantes entre as limas Mtwo® com os outros instrumentos (p<0,05). Concluiu-se que todos os instrumentos estavam sujos, exceto a marca Mtwo® e que após os procedimentos de limpeza a superfície de corte estava isenta de resíduos.Downloads
Referências
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